Elemaster bietet verschiedene Lösungen für Abnahmeprüfungen, um seinen Kunden die volle Funktionsfähigkeit der Produkte sowie höchste Langzeit-Zuverlässigkeit zu gewährleisten.
Wir verfügen über modernste Maschinen für In-Circuit-Tests (ICT) mithilfe der Nagelbett- und Flying-Probe-Technologie.
Das Test-Engineering-Team von Elemaster besitzt umfassende Kompetenzen in der Entwicklung von Lösungen für ICT-Prüfungen sowohl mit Nagelbett-Testvorrichtungen wie:
- Keysight (Agilent)
- Teradyne
- GenRad
- SPEA
als auch mit Flying-Probe-Testsystemen:
- Spea 4040
- Spea 4050
- Spea 4060
Erweitert wird der Prozess durch die On-Board-Programmierung und das Boundary-Scan-Verfahren, um höchste Qualität bei der Produktion zu gewährleisten.
Der Boundary-Scan-Test kann mithilfe verschiedener Ansätze durchgeführt werden:
- eingebettet in die Sequenz der In-Circuit-Prüfung
- Standalone mithilfe der XJTAG-Plattform
- eingebettet in die Sequenz der Funktionsprüfung
UNSERE DIENSTLEISTUNGEN
Die von Elemaster angebotenen Prüfungslösungen sind in der folgenden Tabelle zusammengefasst:
| ANWENDUNG | VORHANDENE MASCHINEN | |
| Parametertest (ICT) mit Flying-Probe | Niedrigkostenansatz für Low-/Mid-Volume-Produktfertigung – elektrische Fehlersuche | 4/6 Sonden Flying-Prrobe-Tester von SPEA (4040/4060) |
| Parametertest (ICT) mit Nagelbett | Medium- bis High-Volume Complex-Produktfertigung – elektrische / Funktionsfehlersuche | Spea (Unitest/Easytest/3030) Agilent 3070 Teradyne Spectrum/1240 Genrad 22xx |
| Hochspannungsprüfung (Sicherheit) | Regulatorische Validierung (z.B. nach CE, UL, CSA) | Prüfstände mit ABAG-Technik |
| Kabel-Scan-Test | Komplexe Rack- und Backplane-Prüfung | Verschiedene Lösungen von WEE für Nieder-/Hochspannungsprüfung |
| Run-In- / Burn-In-Test | Design-Validierung und Zuverlässigkeitsprüfung | Klimaschränke (+/- 20 °C/min) von -40 bis +90 °C und begehbare Prüfkammern |